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欧洲瑞德威电子/天平/千分位天平
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MS750系列影像校正光谱仪
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岛津天平 分析天平AUX220
技术参数:称重能力:220g最小显示值:0.1mg标准偏差:≤0.1mg线性:±0.2mg响应时间:3秒校正砝码:机内环境温度:5-40℃灵敏度温度(10-30℃):±2ppm/℃(PSC位于OFF
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天平瑞士XP/XS系列精密/电子天平梅特勒托利多 可检测天平
的、可追溯的称量信息; GWPExcellenceTM一体化安全功能,确保天平始终正确工作; *仅XP天平 技术参数: XP精密天平:量程210g~64100g,可读性
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天平梅特勒托利多XPR系列 适用于 水分、色度、pH、量热分析、结晶过程、在线动力学参数、热性能
梅特勒托利多瑞士分析天平XPR系列可用于测定 纺织原料 ,适用于 水分、色度、pH、量热分析、结晶过程、在线动力学参数、热性能 项目。并且参考多项行业标准/ VBA。可应用于纺织/印染行业领域。 在
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天平 分析天平AUX220 AUX220
技术参数:称重能力:220g最小显示值:0.1mg标准偏差:≤0.1mg线性:±0.2mg响应时间:3秒校正砝码:机内环境温度:5-40℃灵敏度温度(10-30℃):±2ppm/℃(PSC位于OFF
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瑞士XP/XS系列微量/超微量天平天平梅特勒托利多 可检测天平
用户操作指导以及无需用手接触的红外防风罩控制功能使得该系列高精度天平称量更快速、操作更简便、更有趣味。 技术参数: XP超微量/微量天平:量程2.1g~22g,可读性0.001mg
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梅特勒托利多瑞士XP/XS系列微量/超微量天平天平 可检测天平
、更有趣味。 技术参数: XP超微量/微量天平:量程2.1g~22g,可读性0.001mg~0.01mg 功能和特点: 称量性能:该系列微量天平可以提供现有分析天平具有
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天平瑞士XP/XS系列微量/超微量天平梅特勒托利多 可检测天平
防风罩控制功能使得该系列高精度天平称量更快速、操作更简便、更有趣味。 技术参数: XP超微量/微量天平:量程2.1g~22g,可读性0.001mg~0.01mg 功能和特点
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XPR系列天平瑞士分析天平 应用于纺织/印染
梅特勒托利多瑞士分析天平XPR系列用于测定 纺织原料 ,符合行业标准/ VBA。适用 水分、色度、pH、量热分析、结晶过程、在线动力学参数、热性能 项目。 在染料行业,梅特勒托利多提供全产业链
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